DRK7020 कण छवि विश्लेषक

Drk-7020 कण छवि विश्लेषक आधुनिक छवि प्रौद्योगिकी के साथ पारंपरिक सूक्ष्म माप विधियों को जोड़ता है। यह एक कण विश्लेषण प्रणाली है जो कण आकृति विज्ञान विश्लेषण और कण आकार माप के लिए छवि विधियों का उपयोग करती है। इसमें एक ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप, डिजिटल सीसीडी कैमरा और कण छवि प्रसंस्करण और विश्लेषण सॉफ्टवेयर संरचना शामिल है। सिस्टम माइक्रोस्कोप के कण छवियों को शूट करने और उन्हें कंप्यूटर पर प्रसारित करने के लिए एक समर्पित डिजिटल कैमरे का उपयोग करता है। छवि को एक समर्पित कण छवि प्रसंस्करण और विश्लेषण सॉफ्टवेयर के माध्यम से संसाधित और विश्लेषण किया जाता है। इसमें सहजता, जीवंतता, सटीकता और विस्तृत परीक्षण सीमा की विशेषताएं हैं। कणों की आकृति विज्ञान देखा जा सकता है, और कण आकार वितरण जैसे विश्लेषण परिणाम भी प्राप्त किए जा सकते हैं।

तकनीकी मापदण्ड
मापने की सीमा: 1 ~ 3000 माइक्रोन

अधिकतम ऑप्टिकल आवर्धन: 1600 गुना

अधिकतम रिज़ॉल्यूशन: 0.1 माइक्रोन/पिक्सेल

सटीकता त्रुटि: <±3% (राष्ट्रीय मानक सामग्री)

दोहराव योग्यता विचलन: <±3% (राष्ट्रीय मानक सामग्री)

डेटा आउटपुट: परिधि वितरण, क्षेत्र वितरण, लंबे व्यास का वितरण, छोटे व्यास का वितरण, परिधि के बराबर व्यास का वितरण, क्षेत्र के बराबर व्यास का वितरण, फेरेट व्यास का वितरण, लंबाई से छोटे व्यास का अनुपात, मध्य (D50), प्रभावी कण आकार (D10), सीमा कण आकार (D60, D30, D97), संख्या लंबाई औसत व्यास, संख्या क्षेत्र औसत व्यास, संख्या मात्रा औसत व्यास, लंबाई क्षेत्र औसत व्यास, लंबाई मात्रा औसत व्यास, क्षेत्र मात्रा औसत व्यास, असमान गुणांक, वक्रता गुणांक।

कॉन्फ़िगरेशन पैरामीटर (कॉन्फ़िगरेशन 1 घरेलू माइक्रोस्कोप) (कॉन्फ़िगरेशन 2 आयातित माइक्रोस्कोप)

ट्रिनोकुलर बायोलॉजिकल माइक्रोस्कोप: प्लान ऐपिस: 10×, 16×
अक्रोमैटिक ऑब्जेक्टिव लेंस: 4×, 10×, 40×, 100× (तेल)
कुल आवर्धन: 40×-1600×

कैमरा: 3 मिलियन पिक्सेल डिजिटल सीसीडी (मानक सी-माउंट लेंस)

आवेदन का दायरा
यह कण आकार माप, आकृति विज्ञान अवलोकन और विभिन्न पाउडर कणों जैसे अपघर्षक, कोटिंग्स, गैर-धातु खनिज, रासायनिक अभिकर्मकों, धूल और भराव के विश्लेषण के लिए उपयुक्त है।

सॉफ़्टवेयर फ़ंक्शन और रिपोर्ट आउटपुट स्वरूप
1. आप छवि पर कई प्रसंस्करण कर सकते हैं: जैसे: छवि वृद्धि, छवि सुपरइम्पोज़िशन, आंशिक निष्कर्षण, दिशात्मक प्रवर्धन, कंट्रास्ट, चमक समायोजन और अन्य दर्जनों कार्य।
2. इसमें गोलाई, वक्र, परिधि, क्षेत्रफल और व्यास जैसे दर्जनों ज्यामितीय मापदंडों का बुनियादी माप है।
3. वितरण आरेख को कई प्रकार के मापदंडों जैसे कि कण आकार, आकार, क्षेत्र, आकृति आदि के अनुसार सीधे रैखिक या गैर-रैखिक सांख्यिकीय तरीकों से खींचा जा सकता है।